超聲檢測(cè)適用于板材、復(fù)合板材、碳鋼和低合金鋼鍛件、管材、棒材、奧氏體不銹鋼鍛件等承壓設(shè)備原材料和零部件的檢測(cè)；也適用于承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭、T型焊接接頭、角焊縫以及堆焊層等的檢測(cè)。

一般要求

1、超聲檢測(cè)人員應(yīng)具有一定的基礎(chǔ)知識(shí)和探傷經(jīng)驗(yàn)。并經(jīng)考核取得有關(guān)部門(mén)認(rèn)可的資格證書(shū)。

2、無(wú)錫探傷儀

① 采用A型脈沖反射式無(wú)錫超聲波無(wú)錫探傷儀，其頻率應(yīng)為1~5MHz。

② 儀器至少應(yīng)在滿(mǎn)刻度的75%范圍內(nèi)呈線性顯示，垂直線性誤差不得大于5%。

③ 儀器的水平線性、分辨力和衰減器的精度等指標(biāo)均應(yīng)復(fù)合JB/T 10061的規(guī)定。

3、探頭

① 縱波直探頭的晶片直徑應(yīng)在10~30mm之間，工作頻率1~5MHz，誤差不得超過(guò)±10%。

② 橫波斜探頭的晶片面積應(yīng)在100~400mm2之間，K值一般取1~3.

③ 縱波雙晶直探頭晶片之間的聲絕緣必須良好。

4、儀器系統(tǒng)的性能

① 在達(dá)到所探工件的檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量不得小于10dB。

② 儀器與探頭的組合頻率與公稱(chēng)頻率誤差不得大于±10%。

③ 儀器與直探頭組合的始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；對(duì)于頻率為2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。

④ 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于6dB。

⑤儀器與探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T9124和JB/T 10062的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。

探傷時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備工作

1、探傷一般應(yīng)安排在熱處理后進(jìn)行。若因熱處理后工件形狀不適于超聲探傷，也可將探傷安排在熱處理前，但熱處理后仍應(yīng)對(duì)其進(jìn)行盡可能完全的探傷。

2、工件在外觀檢查合格后方可進(jìn)行超聲探傷，所有影響超聲探傷的油污及其他附著物應(yīng)予以清除。

3、探傷面的表面粗糙度Ra為6.3μm。

探傷補(bǔ)償

1、為確保檢測(cè)時(shí)超聲波聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s。耦合劑應(yīng)透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面，如機(jī)油，漿糊，甘油和水等。

2、靈敏度補(bǔ)償

① 耦合補(bǔ)償 在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。

② 衰減補(bǔ)償 在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的檢測(cè)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。

③ 曲面補(bǔ)償 對(duì)探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過(guò)對(duì)比實(shí)驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。

 系統(tǒng)校準(zhǔn)與復(fù)核

1、一般要求

  系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在規(guī)范試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和反射信號(hào)。

2、儀器校準(zhǔn)

  每隔3個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定。

3、新購(gòu)探頭測(cè)定

  新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書(shū)，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。

4、檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定

  使用儀器----斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。

  使用儀器----直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃查量程和掃查靈敏度。

5、檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核

  遇到下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核：

① 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)；

② 檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃描靈敏度有變化時(shí)；

③ 連續(xù)工作4h以上時(shí)；

④ 工作結(jié)束時(shí)。

6、檢測(cè)結(jié)束前儀器與探頭系統(tǒng)的復(fù)核

  每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。

  每次掃描結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距離-波幅曲線的校核不應(yīng)少與3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。

7、校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng)

  校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開(kāi)關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于水平上。