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蘇州德斯森電子有限公司
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探傷檢測(cè)有幾種
探傷檢測(cè)主要有以下幾種方法：
X光射線探傷12
超聲波探傷
磁粉探傷24
滲透探傷（著色探傷）12
渦流探傷
γ射線探傷12
熒光探傷24
這些方法各有特點(diǎn)，適用于不同的情況和需求。例如，X光射線探傷和γ射線探傷主要利用射線在物體內(nèi)部的傳播和反射來檢測(cè)缺陷，適用于各種材料和構(gòu)件；超聲波探傷則利用超聲波在物體內(nèi)部的傳播和反射來檢測(cè)缺陷，具有精度高、檢測(cè)范圍廣的優(yōu)點(diǎn)；磁粉探傷主要利用磁粉在物體表面的吸附作用來檢測(cè)缺陷，適用于鐵磁性材料；滲透探傷則是通過涂抹在物體表面的滲透劑來檢測(cè)表面缺陷；渦流探傷利用電磁感應(yīng)原理進(jìn)行缺陷檢測(cè)，適用于導(dǎo)電材料；熒光探傷則是利用熒光物質(zhì)在紫外線照射下發(fā)光的特性來檢測(cè)缺陷。
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