超聲波探傷儀的探傷波形
超聲波在工件中傳播，遇到不同的介質(zhì)界面(如缺陷、工件底面或側(cè)面)時(shí)，均會(huì)產(chǎn)生反射或折射，有些反射波將在熒光屏上顯示出來(lái)，這就是探傷波形。反射波形(反射波的形狀及高度)取決于反射面的性質(zhì)、工件的形狀及儀器(包括探頭)的工作狀態(tài)等。
探傷波形是判斷缺陷的依據(jù)。即由反射波的位置確定缺陷的位置、由反射波的高度確定缺陷的大小、由反射波的形狀估計(jì)缺陷的性質(zhì)。因此，掌握超聲波的傳播規(guī)律和了解影響波形的因素，正確的識(shí)別波形都是很重要的。
基本波形的名稱及含義：
發(fā)射波（T):發(fā)射的聲波
缺陷波（F):由缺陷處反射回的聲波
底波（B):由工件底面反射回的聲波
側(cè)面波（W):由工件的側(cè)面或其他異型輪廓的底部（溝槽、油眼）反射回的聲波
界面波（S):由浸在液體中的工件表面反射回的聲波
直通波（K):用兩個(gè)直探頭或斜探頭在工件中的同一面或相對(duì)面探測(cè)時(shí)，接收探頭收到的聲波
橫孔反射波（H):從試塊橫孔處反射回的聲波
平底孔反射波（V):從試塊平底孔處反射回的聲波
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